客户:半导体显示企业
效果:
某半导体显示企业,异常基本都依赖人工判断和处理;产品异常影响因子多且复杂,未知多因子分析时,所有设备&所有参数&所有特征值全部分析时,分析效率低下,现有分析工具无法对未知多因子快速展开分析
格创东智利用ai bigdata,固化工程人员分析方法,融合mfa、kpc、spotfire等能力构建统一良率智能平台,解决良率问题,分析产品良率与时间、机台、参数、特征值等各类参数之间的相关关系。一站式良率报表查询与分析,提升业务效率;帮助工程师快速定位异常发生,提升异常解决效率by天->by小时;实现用户自主快速分析建模
实现全制程全面设备参数便捷捞取,时间缩短10倍
生成时间 机台 参数一站式异常分析报表,时间缩短约50倍
综合良率提升3%
节约成本600 万/年